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      • 鋁膜測(cè)厚儀

        鋁膜測(cè)厚儀主要適用于薄膜、紙張等非金屬軟包裝材料上鋁層厚度的高精度測(cè)量,隨著新型包裝材料的發(fā)展,要求阻透性薄膜上真空沉積大約35nm的鋁涂敷層,因而極大提高了薄膜對(duì)氣體的阻透性,鋁膜的厚度直接影響膜阻透性,因而測(cè)試和控制鋁膜厚度就尤為重要,該產(chǎn)品調(diào)整參數(shù)還可對(duì)金、銀等其他金屬涂層的測(cè)量。

        更新時(shí)間:2024-07-27產(chǎn)品型號(hào):AT-LM301
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